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  • 產品名稱：Nanonics近場掃描光學顯微鏡(NSOM)

  • 產品型號：(Near Field Scanning Mircoscope）
  • 產品廠商：Nanonics
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簡單介紹：
Nanonics近場掃描光學顯微鏡(NSOM)是用於納米材料表征**可獲得優於光波長分辨率的手段。通常近場掃描光學顯微鏡與原子力顯微鏡(AFM)結合使用，因此近場掃描光學顯微鏡可以獲得材料光學與形貌相關的信息。近場掃描光學顯微鏡通常可以獲得以下信息： * 反射率的改變 * 透過率的改變 * 折射率、極化、樣品材料的改變 * 材料局部應力的改變引起光學性質改變 * 材
詳情介紹：

Nanonics近場掃描光學顯微鏡(NSOM)技術參數

1 近場掃描光學顯微鏡(NSOM)操作模式: 透射模式，反射模式，收集模式，照明模式

2 原子力顯微鏡(AFM)操作模式: 敲擊模式，接觸模式(選配)，所有探針或樣品掃描的AFM操作模式

3 微分幹涉對比(DIC) : 反射和透射

4 折射率成像(Refractive-Index Profiling): 反射和透射

5 在線遠場共聚焦(和拉曼及熒光光譜成像): 反射和透射，針對選擇性拉曼散射超薄膜的探針增強拉曼散射

6 熱傳導及擴展電阻成像:接觸模式，敲擊模式，音叉反饋模式(無反饋激光引入幹擾信號,選配)；熱探針可作為納米加熱器使用，納米熱分析、納米相轉變等應用


******************************SPM掃描頭規格**************************
1 樣品掃描器：壓電材料製薄片掃描器 (3D Flat Scanner™)；厚度為7毫米

2 SPM掃描範圍： 樣品掃描，*大100 microns (XYZ)

3 掃描分辨率： < 0.005 nm (Z)
< 0.015 nm (XY)
< 0.002 nm (XY) 低電壓模式

4 粗調定位範圍：6毫米

5 反饋機製：懸臂梁光束反彈反饋，音叉反饋(選配)

6 樣品尺寸：標準配置下,直徑*大至16毫米；正置顯微鏡下使用,直徑*大至34毫米 特殊樣品形狀：如豎直樣品進行邊緣成像等

7 探針：各種針尖外露的玻璃探針，各種常規懸臂梁矽探針均可使用


*******************************成像分辨率****************************
1 遠場： 受光衍射幾何限製

2 光學： 500納米

3 共聚焦： 200納米

4 近場掃描光學： 100納米，極端條件下可達到50納米(由探針孔徑決定)

5 形貌： Z向噪聲0.05納米 rms；XY橫向分辨率：由針尖直徑和樣品的卷積決定

6 熱成像： 100納米起，溫度靈敏度0.01ºC，300 ºC或更高(由樣品決定)

7 電阻成像： 25納米

主要特點

1、支持探針+樣品掃描，這對於波導材料&光子結構的收集模式NSOM和拉曼增強都有極大的幫助；

2、擁有全球*棒的反射模式NSOM，獨特的硬件設計確保係統進行反射模式實驗時擁有與透射模式一樣的收集效率(而一般來說在相同的實驗條件下，反射模式效率比透射模式低三個量級)；

3、可以使用所有種類的NSOM探針，包括我們獨特的懸臂梁玻璃探針、直光纖探針、帶孔洞的懸臂矽探針、SERS探針、化學傳感Sol-gel探針等…；

4、我們**的玻璃探針種類很多，包括NSOM探針、AFM探針、深溝探針、中空AFM探針、拉曼增強探針、離子敏感探針、玻璃絕緣納米金屬絲探針、納米電極、納米鑷子、熱探針(納米加熱)等等…；

5、可以進行非接觸NSOM實驗(采用帶孔洞的懸臂矽探針無法做到)；

6、針對液體生物材料NSOM成像擁有更強的信號(信號強三個量級)；

7、XYZ向大範圍的掃描尤其是100微米深的Z向掃描範圍，對於大尺寸納米粒子、粗糙的表麵SPM實驗及共聚焦集成都是必須的；

8、獨特的深溝探針及Flat scan™掃描器可用於帶深溝的MEMs和半導體器件掃描；

9、全球*佳的熱傳導模式成像，支持接觸模式、非接觸模式熱成像，100納米分辨率起；

10、采用**的FPNTM技術，進**態或液態材料(蛋白質、氯氣等類似材料)納米加工；

11、全球**的雙探針SPM&NSOM係統；

12、可與微拉曼光譜、SEM、FIB、光學顯微鏡實時在線聯用；

13、可以升級進行極端條件下的NSOM或AFM工作……

儀器介紹  

近場掃描光學顯微鏡(NSOM)也習慣稱為掃描近場光學顯微鏡(SNOM)，是用於納米材料表征**可獲得優於光波長分辨率的手段。通常近場掃描光學顯微鏡與原子力顯微鏡(AFM)結合使用，因此近場掃描光學顯微鏡可以獲得材料光學與形貌相關的信息。近場掃描光學顯微鏡通常可以獲得以下信息： 

* 反射率的改變
* 透過率的改變
* 折射率、極化、樣品材料的改變
* 材料局部應力的改變引起光學性質改變
* 材料磁的性質改變引起光學性質改變
* 分子熒光
* 拉曼遷移、SHG或其他效應引起的分子激勵


**********************近場掃描光學顯微鏡的基本構造********************
      進行NSOM實驗，必須將點光源靠到樣品表麵納米距離，然後點光源掃描樣品表麵，再收集探測經過樣品表麵的光學信號。我們使用經金屬塗層處理的帶孔洞椎形光纖作為NSOM探針。光經耦合進入探針，從亞光波長孔徑的探針**發出，NSOM的分辨率就是由孔徑的大小決定(*優可以達到50納米)。點光源和樣品表麵的距離通常通過正常的力反饋機製(與AFM相同)控製，因此可以進行接觸、敲擊和非接觸模式的NSOM實驗。針對不同的材料和實驗，通常有四種NSOM操作模式： 

* 透射模式成像——樣品經過探針照明，光通過樣品並與樣品相互作用後被收集探測；
* 反射模式成像——樣品經過探針照明，光從樣品表麵反射並被收集探測；
* 收集模式成像——樣品經遠場光源照明(從上或下麵均可)，探針將光信號從樣品表麵收集；
* 照明收集模式成像——用同一根探針同時進行照明和收集探測反射光；

      收集的光可通過多種探測器探測，如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探測器、CCD或通過光譜儀探測，通過探測器得到的信號經過數據處理得到樣品材料的NSOM圖像。

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