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塞贝克系数电阻测量系统

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产品名称: 塞贝克系数电阻测量系统
产品型号: ZEM-5 Series
产品展商: Advance Riko

简单介绍

塞贝克系数电阻测量系统ZEM-5 Series塞贝克系数/电阻测量系统可以对高温材料,高电阻材料,薄膜材料等多种材料进行测量。


塞贝克系数电阻测量系统的详细介绍

应用:

评估半导体、陶瓷、金属等材料的热电性能。

 

特性:

1. 应用于各种材料的特性及特殊规格的薄膜等;

2. 测试Si系列(SiGe, MgSi). (HT 型) 的材料的*佳温度传感器是使用C型热电偶;

3. 标配V-I图自检测系统;

4. *高测试温度1200℃(HT 型);

5. *大测量电阻10MΩ(HR 型);

6. 测量在衬底上的热电沉积膜(TF 型);

7. 温控范围在-150℃~200℃(LT 型);

 

设备参数:

型号

ZEM-5HT

ZEM-5HR

ZEM-5LT

ZEM-5TF

特点

高温

高电阻

中低温

薄膜

温度范围

100~1200℃

50~800℃

-150~200℃

50~500℃

工作气氛

低压He气

试样尺寸

Square 2-4 mm or φ2-4 mm × 3-15 mm L

基质沉积:

2-4 mm W × 0.4-1.2 mm t × 20 mm L

薄膜厚度:纳米级或更厚

※试样和基底之间需要绝缘层;

 

Seebeck系数测量方法  设备参数(HT型)

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