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扫描近场光学显微镜

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产品名称: 扫描近场光学显微镜
产品型号:
产品展商: Nanonics

简单介绍

近场扫描光学显微镜NSOM也习惯称为扫描近场光学显微镜SNOM,是用于纳米材料表征唯壹可获得优于光波长分辨率的手段。通常近场扫描光学显微镜与原子力显微镜AFM结合使用,因此近场扫描光学显微镜可以获得材料光学与形貌相关的信息。


扫描近场光学显微镜的详细介绍

 技术参数

1 近场扫描光学显微镜NSOM操作模式: 透射模式,反射模式,收集模式,照明模式

2 原子力显微镜AFM操作模式: 敲击模式,接触模式选配,所有探针或样品扫描的AFM操作模式

3 微分干涉对比DIC : 反射和透射

4 折射率成像Refractive-Index Profiling: 反射和透射

5 在线远场共聚焦和拉曼及荧光光谱成像: 反射和透射,针对选择性拉曼散射超薄膜的探针增强拉曼散射

6 热传导及扩展电阻成像: 接触模式,敲击模式,音叉反馈模式无反馈激光引入干扰信号,选配;热探针可作为纳米加热器使用,纳米热分析、纳米相转变等应用


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SPM扫描头规格
1 样品扫描器:压电材料制薄片扫描器 3D Flat Scanner™;厚度为7毫米

2 SPM扫描范围: 样品扫描,*大100 microns XYZ

3 扫描分辨率: < 0.005 nm Z
< 0.015 nm XY
< 0.002 nm XY 低电压模式

4 粗调定位范围:6毫米

5 反馈机制:悬臂梁光束反弹反馈,音叉反馈选配

6 样品尺寸:标准配置下,直径*大至16毫米;正置显微镜下使用,直径*大至34毫米 特殊样品形状:如竖直样品进行边缘成像等

7 探针:各种针尖外露的玻璃探针,各种常规悬臂梁硅探针均可使用


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成像分辨率1 远场: 受光衍射几何限制

2 光学: 500纳米

3 共聚焦: 200纳米

4 近场扫描光学: 100纳米,极端条件下可达到50纳米由探针孔径决定

5 形貌: Z向噪声0.05纳米 rms;XY横向分辨率:由针尖直径和样品的卷积决定

6 热成像: 100纳米起,温度灵敏度0.01ºC,300 ºC或更高由样品决定

7 电阻成像: 25纳米

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